ycliper

Популярное

Музыка Кино и Анимация Автомобили Животные Спорт Путешествия Игры Юмор

Интересные видео

2025 Сериалы Трейлеры Новости Как сделать Видеоуроки Diy своими руками

Топ запросов

смотреть а4 schoolboy runaway турецкий сериал смотреть мультфильмы эдисон
Скачать

TEM practical session 06 - Acquiring diffraction patterns and tilting a crystal to a zone axis

Автор: Kelvin Xie MSEN TAMU

Загружено: 2020-04-01

Просмотров: 9847

Описание: How to acquire parallel electron diffraction patterns using a CCD camera and how to tilt the crystal to a zone axis are introduced. The video recording was assisted by my student Dexin Zhao.

Не удается загрузить Youtube-плеер. Проверьте блокировку Youtube в вашей сети.
Повторяем попытку...
TEM practical session 06 - Acquiring diffraction patterns and tilting a crystal to a zone axis

Поделиться в:

Доступные форматы для скачивания:

Скачать видео

  • Информация по загрузке:

Скачать аудио

Похожие видео

TEM practical sessions 01 - Getting started

TEM practical sessions 01 - Getting started

MSE585 F20 Lecture 20 Module 4 - TEM Selected-Area Diffraction

MSE585 F20 Lecture 20 Module 4 - TEM Selected-Area Diffraction

FEI Tecnai F20 S/TEM: 2-beam imaging

FEI Tecnai F20 S/TEM: 2-beam imaging

SAED, электронная дифракционная картина на выбранной области: монокристаллический и поликристалли...

SAED, электронная дифракционная картина на выбранной области: монокристаллический и поликристалли...

TEM Alignment

TEM Alignment

John Hutchinson's Crystal Converter

John Hutchinson's Crystal Converter

TEM practical session 03 - TEM instrument alignment

TEM practical session 03 - TEM instrument alignment

Performing STEM alignment using the Ronchigram

Performing STEM alignment using the Ronchigram

MSE 585 F20 Lecture 21 Module 1 - TEM SAD: Indexing Cubic Patterns

MSE 585 F20 Lecture 21 Module 1 - TEM SAD: Indexing Cubic Patterns

TEM: JEOL JEM 2010 Workflow

TEM: JEOL JEM 2010 Workflow

FEI Tecnai F20 S/TEM: selected area diffraction

FEI Tecnai F20 S/TEM: selected area diffraction

FEI Tecnai F20 S/TEM: holder insertion and extraction

FEI Tecnai F20 S/TEM: holder insertion and extraction

EELS Presentation

EELS Presentation

Дифракционный контраст в просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ)

Дифракционный контраст в просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ)

TEM Micro-graphs Interpretation? Transmission Electron Microscopy Characterization Tool

TEM Micro-graphs Interpretation? Transmission Electron Microscopy Characterization Tool

Can you keep zooming in forever?

Can you keep zooming in forever?

Lec 18 - Indexing  Diffraction Pattern

Lec 18 - Indexing Diffraction Pattern

TEM Introduction Seminar

TEM Introduction Seminar

MSE 585 F20 Lecture 20 Module 2 - Bright- and Dark-Field in TEM

MSE 585 F20 Lecture 20 Module 2 - Bright- and Dark-Field in TEM

How to prepare FIB samples for in situ TEM

How to prepare FIB samples for in situ TEM

© 2025 ycliper. Все права защищены.



  • Контакты
  • О нас
  • Политика конфиденциальности



Контакты для правообладателей: [email protected]