Измерение поверхности | ISO против ASME: Основы фильтрации профиля поверхности | Bruker
Автор: Bruker Nano Surfaces & Metrology
Загружено: 2012-04-25
Просмотров: 2926
Описание:
Посмотрите это обсуждение, посвященное настройке и применению стандартизированных методов фильтрации ISO и ASME (ISO 4287, 4288 и ASME B46.1) в контексте профилографов со щупом. Будут рассмотрены различные области применения, касающиеся измерения обработанных и полированных поверхностей в широком спектре отраслей промышленности, включая: микроэлектронику, автомобильную, аэрокосмическую и биомедицинскую. Мы также расскажем о некоторых новых достижениях в программном обеспечении, позволяющих эффективно проводить эти измерения.
--
🔬Профилометр контроля качества с возможностью измерения параметров для оптимальной работы с 300-мм пластинами
https://www.bruker.com/en/products-an...
🔥Лучшие в своем классе профилометры со стилусом:
https://www.bruker.com/en/products-an...
📲Оставайтесь на связи с нами!
Twitter: / brukernano
LinkedIn: / bruker-nano-inc-
#Bruker #Webinar #stylus #profilometer #Dektak
Повторяем попытку...
Доступные форматы для скачивания:
Скачать видео
-
Информация по загрузке:
