Зачем нужен Design for Testability - Антон Осетров (YADRO)

Описание: Спикер:
Антон Осетров ,младший инженер по разработке СнК, YADRO.

В группе DFT занимается доработкой RTL для DFT, встраиванием DFT-структур, верификацией, симуляцией и моделированием. До YADRO проектировал и тестировал отказоустойчивые бортовые вычислители, работал в испытательной лаборатории по функциональному контролю микросхем.

Тема:
Зачем нужен Design for Testability. Сравнение архитектур Scan Design и Random-Access Scan Design

Первая часть выступления посвящена проектированию с учетом контролируемости (DFT) и использованию Scan Design и BIST (Built-In Self-Test) для реализации DFT в работе над СнК.
Во второй части оценил преимущества и недостатки подхода Scan Design, а затем сравнил его с альтернативным подходом Random-Access Scan. Структуры будут встроены для UART с последующей имплементацией на отладочной плате Tang Nano 1K с FPGA GW1NZ-LV1.