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PRECISIÓN y EFICIENCIA en PRUEBAS ON-WAFER | SMUs PZ2100 junto al SOFTWARE PATHWAVE IV de KEYSIGHT

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Medidas I-V

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Pruebas de semiconductores

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Автор: Datatec Instruments

Загружено: 2025-09-03

Просмотров: 72

Описание: Si hay un reto común para todos los ingenieros que trabajen en entornos de I+D y producción es, sin duda, la obtención de resultados fiables y repetibles en el menor tiempo posible y sin perder flexibilidad. ¡Te presentamos una solución que responde a esta necesidad! 👇👀

Esta solución es la combinación de las SMUs PZ2100 y el software PathWave IV de Keysight, junto a una estación de puntas (te recomendamos las de MPI Corporation).🤩 Esto te aportará:
🌟 Precisión extrema. Mide corrientes de fuga de rango de femtoamperios (10 fA).
🌟 Eficiencia y rapidez. Integración de un mainframe compacto de 1U, combinando SMU, generador de pulsos y digitalizador.
🌟 Entornos de medida estables. Control preciso de movimiento, aislamiento frente a vibraciones y soluciones de blindaje.
🌟 Productividad inmediata. Medidas I-V sincronizadas sin necesidad de programar, y análisis instantáneo en gráficos y tablas.
🌟 Escalabilidad. Desde un solo canal de resolución hasta configuraciones multicanal de alta densidad.

Estas características hacen que esta solución sea perfecta para aplicaciones que abarcan:
✅ Caracterización eléctrica de dispositivos a nanoescala.
✅ Evaluación de semiconductores.
✅ Realización de pruebas de rendimiento en MEMS.
✅ Análisis eléctrico de nuevos materiales para displays.
✅ Investigación de dispositivos para computación cuántica.
✅ Y mucho más.

Como resumen, esta solución robusta y escalable no sólo proporciona datos precisos y repetibles, sino que, además, acelerará tus procesos de caracterización y validación. ¡Pregúntanos por esta solución aquí! 👉 https://bit.ly/4lJ9ZGH

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