A New Technique of CW Cameraless T-ray Imaging for Semiconductor Wafer Scale Die Sorting
Автор: Anis Rahman
Загружено: 2022-11-09
Просмотров: 43
Описание:
Introduction
Semiconductor Nanometrology: Why terahertz?
Cameraless T-ray Imaging via the Beer-Lambert-Reflection (BLR) Matrix
Volume Image, Layer-by-layer imaging
Wafer-scale die sorting – proposed criterion
Yield improvement
Conclusions
Повторяем попытку...
Доступные форматы для скачивания:
Скачать видео
-
Информация по загрузке: