TestConX 2021 - Poster: Optimal Localization of DC/AC Relay Chips in a High Parallelism Probe...
Автор: TestConX
Загружено: 2021-05-07
Просмотров: 22
Описание:
TestConX 2021 https://www.testconx.org/premium/test...
"Optimal Localization of DC/AC Relay Chips in a High Parallelism Probe Card for ENhancement of SIgnal Integrity"
Junhee Han, Kwangho Kim and Wansoo Nah
SungKyunKwan University
Gyu-Yeol Kim
Samsung Electronics Company
Повторяем попытку...
Доступные форматы для скачивания:
Скачать видео
-
Информация по загрузке: