Mod-01 Lec-36 VLSI Testing: Automatic Test Pattern Generation

Mod-01 Lec-36 VLSI Testing: Automatic Test Pattern Generation

Автор: nptelhrd

Загружено: 2016-02-29

Просмотров: 30445

Описание: Advanced VLSI Design by Prof. A.N. Chandorkar, Prof. D.K. Sharma, Prof. Sachin Patkar, Prof. Virendra Singh,Department of Electrical Engineering,IIT Bombay. For more details on NPTEL visit http://nptel.ac.in

Не удается загрузить Youtube-плеер. Проверьте блокировку Youtube в вашей сети.
Повторяем попытку...

Mod-01 Lec-36 VLSI Testing: Automatic Test Pattern Generation

Доступные форматы для скачивания:

Скачать видео

Информация по загрузке:

Скачать аудио

Похожие видео