Скачать
Scanning Probe Microscopy Lecture #3 AFM
Автор: Magnus Hummelgård
Загружено: 2014-10-20
Просмотров: 2001
Описание:
This is the third lecture on scanning probe microscopy, here I discuss different artifacts that can appear in the scanned image. Piezo-hysteresis, wrong regulation settings, contaminated tips, and tip-size effects are mentioned.
Your guide: Magnus Hummelgård.
Playlist with all the materials characterization videos
• Light Microscope LM demo session
Не удается загрузить Youtube-плеер. Проверьте блокировку Youtube в вашей сети.
Повторяем попытку...
Повторяем попытку...
Доступные форматы для скачивания:
Скачать видео
-
Информация по загрузке:
