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Hitachi HD-2700B STEM 100mm2 large solid angle SDD EDS elemental mapping
Автор: Hitachi High-Tech GlobalTV
Загружено: 2015-12-18
Просмотров: 794
Описание:
Specimen：Semiconductor MOS transistor,
Instrument：HD-2700B(non Cs-corrected),
Acquisition time：10sec./frame, Playback speed：5x.
100mm2 large solid angle SDD realizes several times of EDS analytical sensitivity than previously, and also higher throughput of elemental analysis in a shorter data acquisition time.
日立HD-2700B 100mm2大立体角SDD検出器 EDXマッピング例
試料：半導体MOSトランジスタ
装置：HD-2700B（球面収差補正器なし）
取得時間：10秒/フレーム
再生速度：x5倍速
液体窒素レスの100mm2 SDD (Silicon Drift Detector)を搭載することにより、従来比数倍の高い感度で、元素分析ができるようになりました。元素分析が、より短時間にハイスループットで行えるようになります。
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