Использование слишком высокой частоты тестирования может привести к путанице в интерпретации граф...
Автор: EddycurrentDOTcom
Загружено: 2026-01-07
Просмотров: 121
Описание: Это видео было снято по специальному запросу для зрителя, который задавался вопросом, почему при очень высокой частоте тестирования неглубокий дефект нарушает традиционную логику плоскости импеданса и смещается вниз и вправо, а не вверх и влево, как это происходит с большинством дефектов (увеличение индуктивного реактивного сопротивления катушки). Краткий ответ заключается в том, что использование слишком высокой частоты тестирования приводит к тому, что БОЛЬШАЯ часть вихревых токов протекает по поверхности, вместо того, чтобы иметь устойчивую плотность вихревых токов на глубине, где расположен дефект. Поверхностные вихревые токи (скин-эффект) имеют более высокий весовой вклад в фазу сигнала. При использовании слишком высокой частоты тестирования большая часть вихревых токов направлена к поверхности и в основном не затрагивается неглубоким подповерхностным дефектом (плоское дно отверстия диаметром 20% в калибровочной трубке). И... вихревые токи, которые затрагиваются на таких больших глубинах, имеют очень незначительный вклад в отображаемый фазовый угол, потому что они очень слабые.
Повторяем попытку...
Доступные форматы для скачивания:
Скачать видео
-
Информация по загрузке:
