Что такое DFT в СБИС?

Описание: В этом эпизоде ​​дается краткое введение в проектирование с учетом тестируемости (DFT) в СБИС и его важность в тестировании микросхем. Рассматриваются распространенные методы и подходы DFT, включая специальные методы, вставку тестовых точек и вставку контрольных точек. Затем обсуждение фокусируется на структурированном DFT и проектировании на основе сканирования, чтобы объяснить, как улучшается тестируемость. Наконец, кратко рассматриваются различные варианты проектирования ячеек сканирования — мультиплексированное D-сканирование, тактируемое сканирование и LSSD — чтобы подчеркнуть их роль в практических реализациях СБИС.

Читать в текстовом формате можно по ссылке: https://www.techsimplifiedtv.in/2026/...

Главы для удобной навигации:
00:00 Начало и введение
01:42 Содержание глав
02:14 Что такое DFT?

04:29 Распространенные методы DFT
06:40 Подходы к DFT
06:55 Специальный подход
09:37 Вставка контрольных точек
13:08 Вставка контрольных точек
15:43 Структурированный DFT и проектирование сканирования
19:25 Проектирование ячеек сканирования
21:28 Различные варианты проектирования ячеек сканирования
21:40 Проектирование ячеек мультиплексированного D-сканирования
24:15 Мультиплексированная D-сканирующая ячейка с чувствительностью к уровню/триггером по фронту
25:28 Проектирование ячеек синхронизированного сканирования
27:07 Проектирование ячеек сканирования LSSD