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커넥터 사출물 외관 비젼 검사기
Автор: 테라씨스템_TERA SYSTEM
Загружено: 2025-12-03
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본 시스템은 커넥터 사출물의 내부 Hole 치수와 Hole 주변의 찍힘 등을 검사 하고
커넥터 Loking 부위의 미성형을 검사합니다.
제품을 담을수 있는 용량은 300 ea 전후이며 호퍼 피더에 채워진 제품은 검사 위치로 정렬되어 이송 되며 1차 내부 좌 우 로킹 부위의 미성형을 검사 하고 2차 커넥터 에 수십개의 Hole 치수를 동시에 측정 하면서 Hole 주변의 찍힘 등을 검사 하고 양품과 불량을 자동으로 배출 하게 됩니다 .
불량 이미지를 불러 내어 분석할 수 도 있으며 Deep Learning 기법에 의한 판독 능력으로 가성 불량을 최소화 하며 미세 찍힘도 검출이 가능 합니다
치수 검출 분해능은 0.01 mm 입니다. 1 set 당 검사 시간은 4 초 전후 소요 합니다 .
검사한 모든 제품에 대한 LOG 는 PC에 이미지와 함께 저장 됩니다
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