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CT-Defektanalyse mit künstlicher Intelligenz
Автор: ZEISS Industrial Quality Solutions
Загружено: 2022-11-27
Просмотров: 1511
Описание: Gutteil oder Schlechtteil? ZEISS Automated Defect Detection (ZADD) trifft diese Entscheidung automatisiert – in der Fertigungslinie und neuerdings auch im Labor. Ergänzen Sie die Auswertung der 3D-Daten Ihres METROTOM Systems mit dem ZADD Add-on für GOM Volume Inspect Pro. Mehr über ZADD erfahren: https://zeiss.ly/y6ck
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