How AFM Works 2-1 Contact Mode
Автор: Park Systems
Загружено: 2015-07-01
Просмотров: 23302
Описание:
In this method, the cantilever scans across a sample surface. Because the cantilever is in contact with the surface, strong repulsive force causes the cantilever to deflect as it passes over topographical features.
Learn more at
http://www.parkafm.com/index.php/park...
Повторяем попытку...
Доступные форматы для скачивания:
Скачать видео
-
Информация по загрузке: