Настройка пикового значения XPS в OriginPro | Часть 2 | Калибровка и вычитание фона

Описание: Изучите высокоточное моделирование пиков XPS в OriginPro, включая калибровку энергии связи и коррекцию фона. Во второй части этой серии статей об анализе XPS мы демонстрируем калибровку эталонного углерода и расширенное вычитание фона с использованием базовых линий Ширли, Тугарда и пользовательских сплайнов для точного анализа 2p титана в XPS.

Часть инициативы InSciLabTech «Для исследователей от исследователей», предоставляющая экспертные методы для исследований поверхностей и характеризации материалов.

🔄 Это видео — часть 2 нашей серии из 3 частей по анализу XPS в OriginPro
• Часть 1: Коррекция углерода и калибровка обзорного спектра:    • How to Analyze XPS Data in OriginPro | Par...  
• Часть 2: Обработка пиков высокого разрешения (это видео)
• Часть 3: Деконволюция пика O 1s в OriginPro    • O 1s Peak Deconvolution in OriginPro | Ste...  
▶ Серия обучающих видео CasaXPS по XPS (полный плейлист):
   • XPS Tips and Tricks  
⚙️ В этом видеоуроке вы узнаете:
Применение коррекции эталонного углерода для калибровки энергии связи
Оценка и выбор правильной фоновой модели (Ширли, Тугард, определяемая пользователем)
Создание физически реалистичного фона с использованием метода сплайнов, заданных пользователем
Подгонка пиков и извлечение параметров (положение, ширина на половине высоты, площадь)
Создание готового к публикации многослойного графика с исходными данными, подобранными пиками и базовой линией
Форматирование графиков XPS с обратной осью энергии и экспорт изображений высокого разрешения

⏱ Разделы видео:
00:00 Краткий обзор серии и фокус на части 2
00:22 Импорт и защита исходных данных
01:44 Применение энергетической калибровки (C + 1,6 эВ)
02:05 Запуск процесса подгонки пиков
02:33 Сравнение методов автоматического фона (Ширли/Тугаард)
03:20 Базовая линия сплайна, заданная пользователем, для коррекции фона XPS
05:03 Завершение подгонки и проверка параметров пиков
06:00 Создание многослойного графика для публикации
07:51 Настройка стилей графика (Цвета, линии, прозрачность)
09:13 Форматирование осей (обратная энергия, верхняя/правая линии)
10:02 Добавление меток пиков (2p³/², 2p¹/²)
10:47 Экспорт итогового изображения (PNG @ 300 DPI)
11:30 Предварительный просмотр серии и заключение

💻 Программное обеспечение: OriginPro
🧪 Пример: Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия высокого разрешения Ti 2p TiO₂

💬 Присоединяйтесь к нашему исследовательскому сообществу!
Обсуждайте анализ XPS, делитесь своими результатами или задавайте вопросы доктору Варме:
👉 https://inscilab.tech/community

🔔 Подпишитесь и нажмите на колокольчик, чтобы получать уведомления о выходе *Части 3: Деконволюция пиков XPS*!

---
Учебное пособие от: д-р Ранджана Варма | Серия: Анализ XPS в OriginPro | Инициатива: InSciLabTech

#XPS #OriginPro #PeakFitting #DataAnalysis #MaterialsScience #SurfaceScience #Titanium #XPSanalysis #Research #Tutorial
🌐 Свяжитесь с нами:
Веб-сайт: https://inscilab.tech
Facebook:   / inscilabtech  
X/Twitter: @InSciLabTech или https://x.com/InSciLabTech