4D STEM-эксперименты стали возможны благодаря высокоскоростным детекторам прямых электронов.

Описание: Традиционные детекторы сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM) представляют собой большие одиночные пиксели, которые интегрируют подмножество сигнала прошедшего электронного пучка, рассеянного от каждой позиции электронного зонда. Эти прошедшие сигналы чрезвычайно богаты информацией, содержащей локализованные данные о структуре образца, его составе, фононных спектрах, трехмерной кристаллографии дефектов и многом другом. Традиционные эксперименты по STEM-изображению регистрируют только 1–2 значения на позицию зонда, отбрасывая большую часть информации о дифрагированном сигнале. С появлением сверхскоростных прямых электронных детекторов мы теперь можем регистрировать полное изображение дифрагированного электронного зонда в каждой позиции, создавая четырехмерный набор данных, который мы называем 4D STEM-экспериментом.

В этом докладе обсуждаются проблемы и возможности, создаваемые 4D STEM. Рассмотренные эксперименты: картирование локальной структуры и состава путем сопоставления экспериментальных картин с дифракционными моделями; локальные измерения деформации в очень большом поле зрения с использованием нанопучковой электронной дифракции; виртуальная темнопольная визуализация с использованием произвольных детекторов; и методы фазово-контрастной визуализации в STEM, такие как птихография, MIDI-STEM и многолучевая STEM-голография
Флюктуационная электронная микроскопия

Докладчик: Колин Офус, Молекулярная лаборатория, Беркли